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分析檢測儀器

PYGC鄰苯檢測儀 X射線衍射儀美國TA熱重分析儀步琦制備色譜系統(tǒng) 德國蔡司三坐標測量機導通電阻測試系統(tǒng) 絕緣電阻測試系統(tǒng) RoHS2.0檢測儀器輝光放電發(fā)射光譜儀紅外測溫儀冰點，傾點，凝點，濁點半導體參數(shù)分析儀材料膜厚儀標準樣品

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奇點探索：場發(fā)射掃描電子顯微鏡德國斯派克提供全面的RoHS2.0檢測-華普通用鎢燈絲掃描電鏡是現(xiàn)代科學研究中重要的工具之一 ICP等離子體光譜儀探索物質世界的精密工具 X射線熒光光譜儀的基本原理波長色散型X射線熒光光譜儀的X光管介紹

錫膏測厚儀
SPI3D-AH錫膏測厚儀：錫膏印刷是SMT生產(chǎn)道工序，許多的質量缺陷都與錫膏印刷質量有關。監(jiān)測錫膏的厚度和變化趨勢，不但是提高質量降低返修成本的關鍵手段，而且是滿足ISO質量體系對過程參數(shù)監(jiān)測記錄的要求，提高客戶對生產(chǎn)質量信心的重要措施。

更新時間：2024-04-09型號：SPI3D-AH訪問量：1184

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日本Otsuka顯微分光膜厚儀
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外）區(qū)域傳感器的安全機制易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數(shù)分析獨立測量頭對應各種inline客制化需求支持各種自定義

更新時間：2023-10-07型號：OPTM SERIES訪問量：1536

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日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外）區(qū)域傳感器的安全機制易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數(shù)分析獨立測量頭對應各種inline客制化需求支持各種自定義

更新時間：2023-10-06型號：訪問量：1152

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